LE-373 電磁膜厚計 ケット科学研究所
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- LE-373
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- 物理量測定器物理量測定器 その他
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- 校正試験成績書
- 校正試験あり
- オプション料金
- 1年保証
オプション・仕様
測定方式:電磁誘導式,測定対象:磁性金属上の非磁性被膜, 測定範囲:0~2500μmまたは99.0mils, 測定精度:50μm未満±1μm,50μm以上1000μm未満±2%,1000μm以上±3% プローブ:一点接触定圧式LEP―J,外部出力:USBまたはRS232C, 電源:単三アルカリ×4,電池寿命:約100時間(バックライト非点灯時,連続使用) オプション:L字型プローブLEP-21L
備考
◇保証に関しまして◇
消耗品・劣化は対象外となります。あらかじめご了承くださいませ。
注文方法・決済方法
お支払い方法は、銀行振り込みとなります。
前入金か納品後入金をお選びいただけます。
購入後にお振込み方法をご案内いたしますので、ご確認次第お振込みください。