日立ハイテク（メーカーメンテナンス・消耗品調達可能）新形走査電子顕微鏡「S-3400N」Type II（メーカーメンテ・消耗品可）

 

https://www.hitachi-hightech.com/jp/about/news/2004/nr20040728_3.html
https://www.hitachi-hightech.com/jp/about/news/2004/nr20040728_3.html

構成)
・本体鏡体（ＳＥＭ　走査電子顕微鏡）
・検出器（HORIBA元素分析器EMAX x-act）
・S-3400Nディスプレイ
・パソコン（HP　ＤＣ７６００　WIN　XP　Pro）
・19型LCT観察モニタ
・操作パネル
・トラックボール
・ウェイト（約40㎏）
・真空フレキ菅（約1m）
・クランプ
・センターリング
・真空ゴム管（約1m）、固定バンド
・ロータリーポンプ（ULVUC　GLD-136D）（約28㎏）
・ロータリーポンプ取扱説明書
・オイルミストトラップ
・オイルミストトラップ取扱説明書
・コンプレッサ（HITACHI　0.2ＯＰ－５Ｓ）
・コンプレッサエアチューブ（約5m）
・コンプレッサ取扱説明書
・コンデンサーレンズ固定絞り
・本体標準付属品および現存使用機器＋試料台等
・付属品ヒューズ
・Type IIステージ
・TB1-Nコード
・TB1-Lコード
・S-3400NソフトウェアCD-ROM
・S-3400Nインストール手順書
・POWERスイッチ用キー
・取扱説明書

参考）
・メーカー点検記録（1年毎契約）2020/04/01～2021/03/31
・製造年：2006/03月製

仕様）
・二次電子像分解能：　（高加速電圧30kV）3.0nm（低加速電圧3kV）10nm
・反射電子像分解能（低真空6Pa)：　4.0nm
・加速電圧：　0.3～30kV
・倍率：　×5～×300,000
・試料ステージ（X、Y軸mm）：　100×50
・最大搭載可能試料サイズ：　200mm径
・試料ステージ（X、Y軸mm）：　5軸モーター駆動

販売価格：1,450,000円(税抜)、検収：動作確認後、引渡し