日立ハイテク
NB5000「nanoDUE’T」 集束イオン・電子ビーム加工観察装置（FIB-SEM）
https://www.depts.ttu.edu/coe/research/mcc/documents/NB5000_FIB-SEM_22.pdf
販売価格：7,870,000円(税抜)
オプション：
・Forcused Ion & Electron Beam System CT-6020 (冷却ユニット)
※メーカー、エンドユーザー様開示後、販売許可が出た場合のみ販売可能品
入荷台数：1台（2014年9月）,メーカー定期検査品